دانلود پی دی اف کتاب High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip :

[ad_1]

این کتاب یک چارچوب جدید برای مدل سازی دقیق خطاها در فناوری CMOS در مقیاس نانو و ایجاد یک جریان روان ابزار در انتزاع طراحی سطح بالا برای برآورد و کاهش اثرات خطاها ارائه می دهد. این کتاب تکنیک های جدیدی را برای شبیه سازی عیب سطح بالا و تخمین قابلیت اطمینان و همچنین طرح های متحمل خطا در سطح معماری و سطح سیستم ارائه می دهد. این مقاله همچنین یک بررسی از پیشرفته ترین مشکلات و راه حل ها ، ارائه بینش در مورد موضوعات قابلیت اطمینان و اقدامات متقابل لایه آنها در طراحی دیجیتال است.

[ad_2]

دانلود pdf کتاب High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip :